CAF:電子工業(yè)小型化的威脅

概述了CAF的歷史、發(fā)生的原理,分析了CAF產(chǎn)生的根本原因,比較了幾種CAF失效分析的方法,同時(shí)也介紹了一種簡易的測試設(shè)備.

作 者： 高艷麗 華嘉楨 Gao Yanli Hua Jiazhen   作者單位： 江南計(jì)算技術(shù)研究所,214083  刊 名： 印制電路信息  英文刊名： PRINTED CIRCUIT INFORMATION  年，卷(期)： 2005 ""(10)  分類號： F4  關(guān)鍵詞： CAF   小型化  

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